Propriétés électronique des matériaux 2D avancés: sonder la conductivité électrique et les propriétés électroniques des matériaux 2D

Details

Supervisors

Hackens, Benoît ; Nysten, Bernard

Faculty

Ecole polytechnique de Louvain

Degree label

Master de spécialisation en nanotechnologies

Abstract

Ce travail étudie la conductivité électrique des matériaux 2D avancés, particulièrement la conductivité du MXène de titanium carbide Ti3C2Tx. il est question ici de mesurer la résistance et d’évaluer la résistivité par deux voies expérimentales différentes et de comparer les résultats obtenues. La première voie expérimentale utilisée est le dépôt de contacts métalliques à la surface d’un flake de titanium carbide et de mesurer la résistance avec l’instrument de mesure à 4-contact. La mesure 4-contacts n’a pas pu être effectuer ici car 2 des 4 contacts déposés étaient reliés par un fin fil de métal ce qui les a certainement court-circuités. La mesure de la résistance se fait à travers la courbe courant-tension obtenue des deux contacts en bon état et donne une résistivité de l’ordre de 10*2 Ωm ce qui est énorme pour un matériau dit conducteur. La deuxième voie expérimentale consiste à déposer les flakes de MXènes en suspension sur des électrodes inter digitées IDEs et de mesurer la résistance avec les courbes courant-tension obtenues du C-AFM et de déduire les résistivités pour chaque résistance. Ici on observe une tendance contre intuitive : plus l’épaisseur du flake est petite, plus il est résistif. Pour les deux mesures, peu importe qu’on soit éloigné ou rapproché ou même sur l’électrode, la résistance est quasi la même. On a tendance à penser que la résistance est juste dans le plan et la composante perpendiculaire est négligeable.